A mismatch characterization and simulation environment for weak-to-strong inversion CMOS transistors

Velarde-Ramírez, J.; Vicente-Sánchez, G.; Serrano-Gotarredona, T.; Linares-Barranco, B.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2005
Volumen: 5837
Número de artículo: 29
Páginas: 247 - 258
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus127-11-2021
wos104-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2011

CiteScore:

0.800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering360/589Q3T2D7
Applied Mathematics278/381Q3T3D8
Condensed Matter Physics273/383Q3T3D8
Electronic, Optical and Magnetic Materials134/183Q3T3D8
Computer Science Applications342/453Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Velarde-Ramírez, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Vicente-Sánchez, G.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Serrano-Gotarredona, T.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Linares-Barranco, B.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)