Embedded desing-for-testability strategies to test high-resolution SD modulators

Escalera, Sara; Espin, Álvaro; Guerra, Oscar; De La Rosa, José M.; Medeiro, Fernando; Pérez-Verdú, Belén

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2005
Volumen: 5837
Páginas: 491 - 501
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus022-01-2022
wos022-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2011

CiteScore:

0.800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering360/589Q3T2D7
Applied Mathematics278/381Q3T3D8
Condensed Matter Physics273/383Q3T3D8
Electronic, Optical and Magnetic Materials134/183Q3T3D8
Computer Science Applications342/453Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Escalera, SaraCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Espin, ÁlvaroCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Guerra, OscarCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4De La Rosa, José M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Medeiro, FernandoCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Pérez-Verdú, BelénCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)