TCAD simulations on CMOS propagation induced pulse broadening effect: Dependence analysis on the NMOS VT

Mogollón, J. M.; Palomo, F. R.; Aguirre, M. A.; Nápoles, J.; Guzmán-Miranda, H.; García-Sánchez, E.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2009
Páginas: 574 - 579
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus027-11-2021
Dimensions
PlumX
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# Autor Afiliación
1Mogollón, J. M.Universidad de Sevilla (Spain)
2Palomo, F. R.Universidad de Sevilla (Spain)
3Aguirre, M. A.Universidad de Sevilla (Spain)
4Nápoles, J.Universidad de Sevilla (Spain)
5Guzmán-Miranda, H.Universidad de Sevilla (Spain)
6García-Sánchez, E.Universidad de Sevilla (Spain)