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Radiation characterization of the austriamicrosystems 0.35 μm CMOS technology

Ramos-Martos, J.; Arias-Drake, A.; Ragel-Morales, A.; Ceballos-Cáceres, J.; Mora-Gutiérrez, J. M.; Piñero-García, B.; Muñoz-Díaz, M.; Lagos-Florido, M. A.; Espejo-Meana, S.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2011
Páginas: 806 - 811
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1413-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Ramos-Martos, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Arias-Drake, A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Ragel-Morales, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Ceballos-Cáceres, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Mora-Gutiérrez, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Piñero-García, B.Universidad de Sevilla (Spain)
7Muñoz-Díaz, M.Universidad de Sevilla (Spain)
8Lagos-Florido, M. A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
9Espejo-Meana, S.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)