Automatic inspection of SET sensitivity in analog cells

Márquez, F.; Muñoz, F.; Palomo, F. R.; Aguirre, M. A.; Ullán, M.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus104-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Márquez, F.Universidad de Sevilla (Spain)
2Muñoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)
3Palomo, F. R.Universidad de Sevilla (Spain)
4Aguirre, M. A.Universidad de Sevilla (Spain)
5Ullán, M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)