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SEE characterization of the AMS 0.35 μm CMOS technology

Ramos, J.; Arias, A.; Mora, J. M.; Munoz, M.; Ragel, A.; Pinero, B.; Ceballos, J.; Carranza, L.; Sordo, S.; Lagos, M. A.; Espejo, S.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus623-03-2024
wos023-03-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
Agencia Código de Proyecto
CISMAEAYA2011-29967- C05-05
European Regional Development Fund FEDER-
panish Plan Nacional de InvestigaciOn of the Ministerio de Ciencia e Innovacion (MICINN) under project MEIGAAYA2009-14212-C05-04
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Ramos, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Arias, A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Mora, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Munoz, M.Universidad de Sevilla (Spain)
5Ragel, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Pinero, B.Universidad de Sevilla (Spain)
7Ceballos, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
8Carranza, L.Universidad de Sevilla (Spain)
9Sordo, S.Universidad de Sevilla (Spain)
10Lagos, M. A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
11Espejo, S.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)