Characterization of Random Telegraph Noise and its impact on reliability of SRAM sense amplifiers

Martin-Martinez, J ; Diaz, J; Rodriguez, R; Nafria, M; Aymerich, X; Roca, E; Fernandez, Francisco V.; Rubio, A

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2014
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus915-01-2022
wos015-01-2022
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PlumX
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# Autor Afiliación
1Martin-Martinez, J Autonomous University of Barcelona (Spain)
2Diaz, JAutonomous University of Barcelona (Spain)
3Rodriguez, RAutonomous University of Barcelona (Spain)
4Nafria, MAutonomous University of Barcelona (Spain)
5Aymerich, XAutonomous University of Barcelona (Spain)
6Roca, EUniversidad de Sevilla; CSIC (Spain)
7Fernandez, Francisco V.Universidad de Sevilla; CSIC (Spain)
8Rubio, APolytechnic University of Catalonia (Spain)