Native and irradiation-induced defects in SiO2 structures studied by positron annihilation techniques

Rivera, A. ; Montilla, I.; Alba García, A.; Escobar Galindo, Ramón; Falub, C. V.; Van Veen, A.; Schut, H.; De Nijs, J. M.M.; Balk, P.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2001
Volumen: 363-365
Páginas: 64 - 66
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus804-12-2021
wos504-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2001

Factor de Impacto (SCIE): 0.461

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE106/170Q3T2D7

Año:

2011

CiteScore:

0.500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science260/393Q3T2D7
Mechanical Engineering318/487Q3T2D7
Mechanics of Materials198/296Q3T3D7
Condensed Matter Physics313/383Q4T3D9

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

0.426

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering149/452Q2T1D4
Materials Science (miscellaneous)138/360Q2T2D4
Mechanics of Materials111/244Q2T2D5
Condensed Matter Physics189/322Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Rivera, A. Delft University of Technology (Netherlands)
2Montilla, I.Delft University of Technology (Netherlands)
3Alba García, A.Delft University of Technology (Netherlands)
4Escobar Galindo, RamónDelft University of Technology (Netherlands)
5Falub, C. V.Delft University of Technology (Netherlands)
6Van Veen, A.Delft University of Technology (Netherlands)
7Schut, H.Delft University of Technology (Netherlands)
8De Nijs, J. M.M.Delft University of Technology (Netherlands)
9Balk, P.Delft University of Technology (Netherlands)