Structural effects due to the incorporation of Ar atoms in the lattice of ZrO2 thin films prepared by ion beam assisted deposition

Holgado, J. P.; Escobar Galindo, Ramón; Van Veen, A.; Schut, H.; De Hosson, J. Th M.; González-Elipe, A. R. 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 194
Número: 3
Número de artículo: PII S0168-583X(02)00695-X
Páginas: 333 - 345
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1004-12-2021
wos904-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2002

Factor de Impacto (SCIE): 1.158

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE10/52Q1T1D2
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE6/33Q1T1D2
PHYSICS, NUCLEARSCIE13/22Q3T2D6
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE21/31Q3T3D7

Año:

2011

CiteScore:

2.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation26/90Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics23/58Q2T2D4

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

0.822

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation15/72Q1T1D3
Nuclear and High Energy Physics18/49Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Holgado, J. P.Universidad de Sevilla (Spain)
2Escobar Galindo, RamónDelft University of Technology (Netherlands)
3Van Veen, A.Delft University of Technology (Netherlands)
4Schut, H.Delft University of Technology (Netherlands)
5De Hosson, J. Th M.University of Groningen (Netherlands)
6González-Elipe, A. R. Universidad de Sevilla (Spain)