Stress development and adhesion behavior in thin ceramic coatings monitored by positron annihilation during bending

Escobar Galindo, Ramón ; van Veen, A.; Schut, H.; Carvalho, N.J.M.; Strondl, C.; de Hosson, J.T.M.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2002
Volumen: 695
Número de artículo: 941
Páginas: 397 - 402
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus104-12-2021
wos104-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2011

CiteScore:

0.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics350/383Q4T3D10
General Materials Science302/393Q4T3D8
Mechanical Engineering375/487Q4T3D8
Mechanics of Materials234/296Q4T3D8
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# Autor
1Escobar Galindo, Ramón 
2van Veen, A.
3Schut, H.
4Carvalho, N.J.M.
5Strondl, C.
6de Hosson, J.T.M.