Protrusion formation and surface porosity development on thermally annealed helium implanted copper

Escobar Galindo, Ramón ; Van Veen, A.; Evans, J. H.; Schut, H.; De Hosson, J. Th M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2004
Volumen: 217
Número: 2
Páginas: 262 - 275
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2827-11-2021
wos2827-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2004

Factor de Impacto (SCIE): 0.997

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE8/31Q2T1D3
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE17/48Q2T2D4
PHYSICS, NUCLEARSCIE14/21Q3T2D7
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE26/34Q4T3D8

Año:

2011

CiteScore:

2.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation26/90Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics23/58Q2T2D4

SJR año:

2004

Factor de Impacto:

0.762

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation19/71Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics24/50Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM); Delft University of Technology (Spain)
2Van Veen, A.Delft University of Technology (Netherlands)
3Evans, J. H.Sin datos ()
4Schut, H.Delft University of Technology (Netherlands)
5De Hosson, J. Th M.University of Groningen (Netherlands)