Porosity in silicon and silica thin films monitored by positrons and positronium

Van Veen, A. ; Escobar Galindo, Ramón; Eijt, S.W.H.; Schut, H.; van Gog, H.; Balkenende, A.R.; De Theije, F.K.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2004
Volumen: 445-6
Páginas: 254 - 258
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus227-11-2021
wos327-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2004

Factor de Impacto (SCIE): 0.498

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE119/177Q3T3D7

Año:

2011

CiteScore:

0.500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science260/393Q3T2D7
Mechanical Engineering318/487Q3T2D7
Mechanics of Materials198/296Q3T3D7
Condensed Matter Physics313/383Q4T3D9

SJR año:

2004

Factor de Impacto:

0.462

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering155/493Q2T1D4
Materials Science (miscellaneous)143/400Q2T2D4
Mechanics of Materials111/269Q2T2D5
Condensed Matter Physics188/353Q3T2D6
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# Autor
1Van Veen, A. 
2Escobar Galindo, Ramón
3Eijt, S.W.H.
4Schut, H.
5van Gog, H.
6Balkenende, A.R.
7De Theije, F.K.