A modified blister test to study the adhesion of thin coatings based on local helium ion implantation

Escobar Galindo, Ramón ; Van Veen, A.; Evans, J. H.; Schut, H.; De Hosson, J. Th. M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 471
Número: 1-2
Páginas: 170 - 176
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2504-12-2021
wos2604-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2005

Factor de Impacto (SCIE): 1.569

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE4/19Q1T1D3
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE40/178Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE27/83Q2T1D4
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE19/60Q2T1D4

Año:

2011

CiteScore:

3.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry39/233Q1T1D2
Metals and Alloys13/126Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/91Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials41/183Q1T1D3
Surfaces and Interfaces11/49Q1T1D3

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

1.179

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys13/161Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials31/156Q1T1D2
Materials Chemistry29/236Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films13/105Q1T1D2
Surfaces and Interfaces15/53Q2T1D3
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# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM); Delft University of Technology (Spain)
2Van Veen, A.Delft University of Technology (Netherlands)
3Evans, J. H.Sin datos ()
4Schut, H.Delft University of Technology (Netherlands)
5De Hosson, J. Th. M.University of Groningen (Netherlands)