Calibration of nitrogen content for GDOES depth profiling of complex nitride coatings

Escobar Galindo, Ramón ; Forniés, E.; Gago, R.; Albella, J. M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 22
Número: 12
Páginas: 1512 - 1516
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1527-11-2021
wos1527-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2007

Factor de Impacto (SCIE): 3.269

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE9/70Q1T1D2
SPECTROSCOPYSCIE6/39Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

5.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry14/86Q1T1D2
Spectroscopy11/54Q1T1D3

SJR año:

2007

Factor de Impacto:

1.255

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry17/87Q1T1D2
Spectroscopy14/56Q1T1D3
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# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
2Forniés, E.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
3Gago, R.Universidad Autónoma de Madrid (Spain)
4Albella, J. M.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)