Comparative depth-profiling analysis of nanometer-metal multilayers by ion-probing techniques

Escobar Galindo, Ramón ; Gago, R.; Lousa, A.; Albella, J.M.

Tipo: Revisión
Año de Publicación: 2009
Volumen: 28
Número: 4
Páginas: 494 - 505
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus5404-12-2021
wos4904-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2009

Factor de Impacto (SCIE): 6.546

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE1/70Q1T1D1

Año:

2011

CiteScore:

9.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry5/86Q1T1D1
Environmental Chemistry2/83Q1T1D1
Spectroscopy2/54Q1T1D1

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

2.838

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry6/89Q1T1D1
Environmental Chemistry4/90Q1T1D1
Spectroscopy3/57Q1T1D1
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Agencia Código de Proyecto
Spanish Ministry of Science and InnovationCSD2008-00023
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
2Gago, R.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
3Lousa, A.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
4Albella, J.M.Universidad Autónoma de Madrid (Spain)