Towards nanometric resolution in multilayer depth profiling: a comparative study of RBS, SIMS, XPS and GDOES

Escobar Galindo, Ramón ; Gago, Raul; Duday, David; Palacio, Carlos

Tipo: Revisión
Año de Publicación: 2010
Volumen: 396
Número: 8
Páginas: 2725 - 2740
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus6404-12-2021
wos5804-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2010

Factor de Impacto (SCIE): 3.841

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE9/73Q1T1D2
BIOCHEMICAL RESEARCH METHODSSCIE19/71Q2T1D3

Año:

2011

CiteScore:

5.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry13/86Q1T1D2
General Medicine616/3161Q1T1D2
Biochemistry85/354Q1T1D3

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

1.364

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry17/94Q1T1D2
Biochemistry101/356Q2T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Spanish Ministry of Science and InnovationMAT2008-06618-C02-01; FUNCOAT CSD2008-00023; RyC2007-0026
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón Universidad Autónoma de Madrid; CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
2Gago, RaulCSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
3Duday, DavidLuxembourg Institute of Science and Technology (Luxembourg)
4Palacio, CarlosUniversidad Autónoma de Madrid (Spain)