Optical and transport properties of Ti-doped In2O3 thin films prepared by electron beam physical vapour deposition

Sánchez-Marcos, J. ; Ochando, I. M.; Escobar Galindo, Ramón; Martínez-Morillas, R.; Prieto, C.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2010
Volumen: 207
Número: 7
Páginas: 1549 - 1553
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus627-11-2021
wos427-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2010

Factor de Impacto (SCIE): 1.472

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE87/225Q2T2D4
PHYSICS, APPLIEDSCIE54/118Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE31/68Q2T2D5

Año:

2011

CiteScore:

2.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry57/233Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films23/91Q1T1D3
Electrical and Electronic Engineering151/589Q2T1D3
Condensed Matter Physics127/383Q2T1D4
Electronic, Optical and Magnetic Materials59/183Q2T1D4
Surfaces and Interfaces17/49Q2T2D4

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

0.871

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering95/574Q1T1D2
Materials Chemistry51/241Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films24/108Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials50/180Q2T1D3
Condensed Matter Physics126/395Q2T1D4
Surfaces and Interfaces21/54Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Sánchez-Marcos, J. CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
2Ochando, I. M.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
3Escobar Galindo, RamónCSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM); Centro de Microanálisis de Materiales (Spain)
4Martínez-Morillas, R.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
5Prieto, C.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)