Reply to 'Comment on "Calibration of nitrogen content for GDOES depth profiling of complex nitride coatings"' by V. Hoffmann, J-Anal. At. Spectrom., 2008, 23, DOI : 10.1039/b713743p

Escobar Galindo, Ramón 

Tipo: Letter
Año de Publicación: 2008
Volumen: 23
Número: 4
Páginas: 593 - 594
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus004-12-2021
wos004-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2008

Factor de Impacto (SCIE): 4.028

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE4/70Q1T1D1
SPECTROSCOPYSCIE5/39Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

5.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry14/86Q1T1D2
Spectroscopy11/54Q1T1D3

SJR año:

2008

Factor de Impacto:

1.207

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry21/87Q1T1D3
Spectroscopy16/56Q2T1D3
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# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)