In-depth multi-technique characterization of chromium-silicon mixed oxides produced by reactive ion beam mixing of the Cr/Si interface

Escobar Galindo, Ramón ; Benito, N.; Duday, D.; Fuentes, G. G.; Valle, N.; Herrero, P.; Vergara, L.; Joco, V.; Sanchez, O.; Arranz, A.; Palacio, C.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2012
Volumen: 27
Número: 3
Páginas: 390 - 400
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus227-11-2021
wos227-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2012

Factor de Impacto (SCIE): 3.155

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
SPECTROSCOPYSCIE7/43Q1T1D2
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE17/75Q1T1D3

Año:

2012

CiteScore:

5.200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Spectroscopy11/55Q1T1D2
Analytical Chemistry18/89Q1T1D3

SJR año:

2012

Factor de Impacto:

1.195

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry20/101Q1T1D2
Spectroscopy15/64Q1T1D3
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Agencia Código de Proyecto
MCINN within the Ramon y Cajal-
Region of Navarra-
Spanish Ministerio de Ciencia e InnovacionMAT2008-06618-C02; FUNCOAT-CSD2008-00023
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Escobar Galindo, Ramón CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
2Benito, N.Universidad Autónoma de Madrid (Spain)
3Duday, D.Luxembourg Institute of Science and Technology (Luxembourg)
4Fuentes, G. G.AIN (Spain)
5Valle, N.Luxembourg Institute of Science and Technology (Luxembourg)
6Herrero, P.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
7Vergara, L.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
8Joco, V.Centro de Micro-Análisis de Materiales (Spain)
9Sanchez, O.CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain)
10Arranz, A.Universidad Autónoma de Madrid (Spain)
11Palacio, C.Universidad Autónoma de Madrid (Spain)