A robust and automated methodology for the analysis of Time-Dependent Variability at transistor level

Saraza-Canflanca, P.; Diaz-Fortuny, J.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Fernandez, F. V.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2020
Volumen: 72
Páginas: 13 - 20
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus422-01-2022
wos222-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Impact Factor (JIF): 1.211

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE46/53Q4T3D9
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE227/273Q4T3D9

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 0,380

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE45/58Q4T3D823,28
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC221/319Q3T3D730,88

Año:

2020

CiteScore:

3.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering313/693Q2T2D5
Hardware and Architecture87/157Q3T2D6
Software222/389Q3T2D6

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0.264

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering376/655Q3T2D6
Hardware and Architecture98/147Q3T2D7
Software241/352Q3T3D7
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# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Diaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Martin-Martinez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Rodriguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)