Valentín Gutiérrez Gil

Predoctoral PIF VI Plan Propio
vgutierrez7@us.es
Área de conocimiento: Electrónica
Departamento: Electrónica y Electromagnetismo
Grupo: DISEÑO Y TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS DE SEÑAL MIXTA (TIC-178)
Tipo Año Título Fuente
Artículo2020 An adaptive simulation framework for AMS-RF test quality INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL
Ponencia2020 On the importance of bias-dependent charge injection for SET evaluation in AMS Circuits NEWCAS 2020 - 18th IEEE International New Circuits and Systems Conference, Proceedings
Ponencia2019 Adaptive defect simulation flow for Defect-oriented Test evaluation SMACD 2019 - 16th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design, Proceedings
Artículo2019 Assessing AMS-RF Test Quality by Defect Simulation IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
Ponencia2019 SET sensitivity evaluation, a comparison before and after layout 2019 34th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2019
Ponencia2019 Single Event Transient injection in large mixed-signal circuits Proceedings - 33rd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2018
Ponencia2018 AMS-RF test quality: Assessing defect severity. 2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2018
Este investigador no ha dirigido/tutorizado tesis
El investigador no tiene ningún proyecto asociado.
El investigador no tiene ningún resultado de investigación asociado