The Variability Challenge in Nano-CMOS: from Device Modeling to IC Design for Mitigation and Exploitation (Vigilant-Imse)

Referencia: PID2019-103869RB-C31

Tipo: Proyecto de investigación
Programa financiador: Plan Estatal 2017-2020 Retos - Proyectos I+D+i
Entidad financiadora: Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades
Ámbito: Nacional
Convocatoria competitiva:
Fecha de inicio: 01/06/2020
Fecha de fin: 31/05/2023
Participantes en la financiación
Nombre Rol
Castro López, Rafael Responsable
Fernández Fernández, Francisco Vidal Responsable
Dündar, Günhan Investigador/a
Brox Jiménez, Piedad Investigador/a
Barragán Asián, Manuel José Investigador/a
Passos, Fabio Investigador/a
Roca Moreno, Elisenda Investigador/a
Sarazá Canflanca, Pablo Investigador/a
Eiroa Lorenzo, Susana Investigador/a
Amrouch, Hussam Investigador/a
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Tipo Año Título Fuente
Artículo 2021 Improving the reliability of SRAM-based PUFs under varying operation conditions and aging degradation MICROELECTRONICS RELIABILITY
Nota: la fuente de financiación de las publicaciones se ha obtenido de WOS